Рентгенофлуоресцентный метод определения концентрации металлов в смазочных маслах

Рентгенофлуоресцентный метод анализа основан на использовании вторичного (флуоресцентного) рентгеновского излучения, возникающего при взаимодействии пучка первичного излучения с веществом. Атомы вещества, ионизируемые первичным излучением, испускают собственное излучение, характеризующее эти атомы. Таким образом, интенсивность и спектральный состав флуоресцентного излучения является источником информации об элементном составе облучаемого объекта.

Рентгенофлуоресцентный метод пригоден для анализа любых агрегатных состояний вещества. Диапазон определяемых содержаний – от 0,00005 до 100%. В оптимальных условиях точность анализа достигает величины порядка 0,3% отн. Метод позволяет определять содержание более 30 элементов одновременно. Экспрессность метода может быть доведена до 1-5 мин. на пробу. Процесс анализа на современных рентгеновских флуоресцентных спектрометрах полностью автоматизирован.

Рентгенофлуоресцентная аппаратура для проведения анализа

Рентгенофлуоресцентная аппаратура делится на две большие группы по способу разложения в спектр и детектирования флуоресцентного излучения (рис. 25):

Рис. 25. Блок-схема рентгеновского спектрометра:

1 – рентгеновская трубка; 2 – высоковольтный источник питания рентгеновской трубки; 3 – анализируемый образец; 4 – детектор флуоресцентного излучения; 5 – источник питания детектора; 6 – электронные блоки обработки и представления информации; 7 – система автоматического управления; 8 - ЭВМ

1) Кристалл-дифракционная аппаратура (аппаратура с волновой дисперсией). Использует кристалл-анализаторы, обеспечивающие весьма высокое спектральное разрешение по длинам волн. Разложение флуоресцентного излучения в спектр происходит в детекторе 4 (рис. 25).

2) Бездифракционная аппаратура (или аппаратура с энергетической дисперсией). Использует энергодисперсионные детекторы рентгеновского излучения, также обозначенные на рис. 25 позицией 4. Остальные элементы рентгенофлуоресцентного спектрометра, представленные на рис. 25, одинаковы для кристалл-дифракционной и бездифракционной аппаратуры. Бездифракционная аппаратура отличается высокой светосилой, сравнительно малыми габаритами, небольшим энергопотреблением и невысокой стоимостью. Важным достоинством этой аппаратуры является возможность получить информацию об интенсивности почти всех формирующих пробу элементов за одну экспозицию, как и для многоканальных спектрометров. Но влияние основы пробы, распределения частиц по размерам на величину аналитического сигнала и недостаточно низкий предел обнаружения ограничивают диагностические возможности рентгенофлуоресцентного метода.

Статьи о транспорте:

Расчет стоимости основных фондов и дополнительных капитальных вложений
Стоимость основных производственных фондов найдем из выражения [21]: Сопф = Сзд + Соб +Спп +С'зд + С'об + С'пп, (5.1) где Сзд – стоимость имеющего и дополнительно проектированного здания ремонтно-технического производства, тыс. руб. С'зд – стоимость новых помещений и пристройки здания определяе ...

Распределение запасов и грузов по грузовым помещениям
Помещение Вес, т Xg (+) Mx (+) Xg (-) Mx (-) Zg Mz СП 3300 7,5 24750 7,24 23892 Рт Топливо 264 -43 -11364,6 3,94 1041,316 Рв Вода 362 -48 -17397,6 10,23 3707,864 Рэк Экипаж 15 ...

Определение параметров контейнерной площадки, оборудованной мостовым краном
Ширина контейнерной площадки определяется по формуле: Вкп=lкр-lжд-3*lб Где lжд — ширина железнодорожной колеи 1,520м; lкр — пролет крана, 28,5м; lб — зазор безопасности, применяется 1,1м Вкп=28,5-1,52-3*1,1=23,68м Длина контейнерной площадки определяется по формуле: Lкп = (Vкп / 2 * n) * l, ...